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装置
情報通信用半導体レーザー
特性評価装置
■CAN_LD 320CH温度/DC特性自動評価装置
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-40〜90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います。
独自の冷熱システムを採用することにより高いスループットを実現致しました。 |
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対象デバイス
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φ3.8,5.6 CAN LD |
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波長
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405〜900nm |
| 1100〜1550nm |
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■バタフライLD 温度特性試験装置
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ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測致します。
製品デバイスの出荷検査に最適です。 |
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■卓上 CW I-LテスターSEC-4000BGPIB/USB
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ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測致します。
製品デバイスの出荷検査に最適です。 |
| 駆動方式 |
CW ACC(手動時APC可能) |
| ドライブ能力 |
0〜±200mA |
0〜±9V |
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0〜±1A |
0〜±5V |
| インターフェイス |
GPIB , USB |
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■CW/Pulse I-Lテスター SEC-7000
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LDをCW〜Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です。 |
| 駆動方式 |
CW/Pulse ACC |
| ドライブ能力 |
0±250mA/±7.5VMAX |
| 0±500mA/±7.5VMAX |
| パルス幅 |
0〜±1A |
0〜±5V |
| 同期 |
1μS〜1.6mS |
| パルス設定分解能 |
100nSec |
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信頼性試験装置
■バーイン装置
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○恒温槽式
均一性の高い温度制御技術と高精度のドライバの採用により、エージング、スクリーニングシステムを柔軟に構築致します。 |
デバイストレー（サンプル） |
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○コンポーネントタイプエージングシステム
ドライバ、温湿環境、冶具等、ユニットの組合せにより、ご予算・目的・ご要求性能にあわせて自在にシステム構築可能なコンポーネントをご用意しております。移設、増設が容易な設計と致しました。 |
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PD付デバイス実装 ヒーター冶具 |
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○ハイスペックエージングテスター
ドライブボードにFPGAエンジンを搭載。通常のACC/APCドライブと合わせ、多チャンネルI-Lテスター機能を追加したエージングテスターです。
デバイスの総合的な評価を行う研究開発様、品質管理様のお仕事を強力に支援いたします。 |
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ストレージ
特性評価装置
■高速パルスI-Lテストシステム SEC-PL4000-800
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レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L 及びI-Vf 特性を測定する装置です。CW では得ることのできないパルス変調でのI-L のキンク特性を30nSの短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られたデータはWINDOWS 上で表示され、データ処理されます。また、ビームプロファイラ、偏光特性及びFFP などの測定が計測ステージのカスタマイズにより可能な仕様です。 |
| 対象デバイス |
CAN,FLAME-LD |
| 波長帯域 |
400〜1000nm0〜±9V |
| ドライブ能力 |
800mA/9V |
| パルス幅 |
30nS〜50μS
（I-L計測可）
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5〜20nS
（I-L計測不可）
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| 温調能力 |
−40〜＋90℃ |
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信頼性試験装置
■高速パルスI-Lエージングテスター SEPA-120B
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1波長が400nm 及び660nm のCAN-Type LD を高速パルス駆動状態でエージングを行うものです。
LD の出力光によりサンプルホールドAPCをかけて順電流の経時変化をモニターします。
60CH単位で増設可能です。（写真は120CH仕様） |
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産業用
特性評価/信頼性試験装置
■ハイパワーLD I.V.L.λ.FFP自動計測装置/寿命評価装置
テスター
| 想定波長帯域 |
700〜900nm |
| 想定光出力 |
100W |
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ハイパワーのLD モジュール（アレー状レーザー）の諸特性を評価するものです。積分球とカロリーメーターを採用し、全光量のパワーを自動計測致します。
寿命評価装置はハイパワーの長期通電を行い、耐久寿命を評価する装置です。 |
 長期通電装置 |
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■VCSEL温特チップ/アレー/ウェハテスター
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面発光レーザーVCSEL-LDのウェハ〜チップをヒーターステージ上でプローブコンタクトし、I-L特性を計測する半自動装置です。 |
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■マルチビームLDエージングテスター
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レーザープリンタスキャン用マルチビームLDの信頼性を評価する装置です。素子を駆動するドライバボードにFPGAエンジンを採用することにより、通常のエージングモードに加え、各素子毎のI-Lデータを高速で取得することを可能と致しました。 |
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その他フォトニクスデバイス
特性評価/信頼性試験装置
■フォトダイオードエージングテスター
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恒温恒湿の環境下でトレーに実装したAPDに逆バイアスを印加、レーザー光を照射し、ダイオード特性を採取します。研究開発に最適な暴露試験装置です。 |
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■光部品信頼性試験装置
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E/A,L/Nなど 光変調器やEDFAなどの光部品の評価装置をカスタムでご提案致します。
もちろんアクティブ素子に組み込まれた状態でのエージングテストシステムも構築可能です。 |
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FPD-有機EL
特性評価装置
■IVL特性評価装置
| 有機ELデバイスの電気発光特性(IVL特性）を自動計測する装置です。お客様の目的に併せ、自動計測系をカスタムで構築いたします。材料評価の現場でお役に立ちます。 |
【システム例】
真空チャンバステージ付モデル |
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■バックライト用ELパネル自動検査装置
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携帯電話のバックライト用ELや照明用の白色ELパネルの輝度、色度、ムラ等発光特性を自動検査、ランク付け（選別）する装置です。量産ラインモデルです。 |
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信頼性試験装置
■L-T自動評価装置（寿命評価装置）
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有機EL素子の耐久寿命の自動計測を目的とした装置です。
100〜200個程度のTEGを任意の駆動方式で点灯させ、任意のサイクルで輝度、色度、スペクトルを自動計測する装置です。
素子、材料評価の現場での高い評価をいただいておりますスタンダードモデルです。 |
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■恒温槽式エージング装置
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素子の性能安定と選別を目的とした、恒温槽式エージングを行う装置です。
任意の設定パラメーターにより均一の温度環境化で精度の高い駆動を実現しています。
量産プロセスでお役に立ちます。 |
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■コンポーネントタイプエージングシステム
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標準ユニットの組合せにより、4CH単位で増設可能なエージングシステムです。
高精度のACC/AVC（CW/Pulse)駆動。フォトダイオードで輝度の相対的な減衰値をサンプリングいたします。
発光材料の研究開発の現場でなくてはならない業界標準モデルです。 |
80CH市販オーブンタイプ
システム例 |
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FPD-液晶
特性評価装置
■液晶視野角・色度 温度特性自動測定装置
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各社様発光特性測定機器を用いた自動測定システムの構築を提案いたします。 |
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その他ディスプレイ関連
特性評価装置
■偏光板自動特性評価装置
ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測致します。
製品デバイスの出荷検査に最適です。 |
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■LCDバックライト輝度・色度自動測定装置
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各種輝度計と自動ステージを組み合わせた、シンプルな自動計測システムです |
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信頼性試験装置
■TFTエージング装置
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TFT 素子電流、電圧特性を測定する装置です。 駆動電源のON／OFF 及び駆動モード、Is、Vgs、Vds の設定と電流、電圧測定を行い、長期通電での経時変化をモニタします。 |
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LED
特性評価装置
■高輝度LEDテスター
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LEDの電気的・光学特性を測定し、任意のパラメーターで選別あるいは合否判定をする目的のテスターです。各社分光計測器の制御インターフェイスを標準装備。光-電気の高速計測システムの構築を容易に致しました。
オプションの検査ステージは、デバイス形状にあわせカスタム設計対応。積分球内温調やハンドラー機能など様々なご要望に対応可能です。
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PDF. |
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信頼性試験装置
■パルスエージング装置
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チャンネル毎の単価を徹底的に抑えながら、高精度の定電流パルス駆動を実現した、エージング電源ユニットです。
コンパクト設計ですから増設も容易です。
（写真は100CH仕様) |
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